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天体光度测量

指测量来自天体的有限波段范围内的辐射流,简称测光,常以星等表示。历史上,测光是为了给出天体的亮度,帮助在复杂的星图、星表中证认恒星。随着测光方法日益完善和研究的逐步深入,光度测量成为研究各类天体物理性质的重要方法。对难于观测光谱的暗弱天体,通过测光可以得到一些如同光谱研究所得的物理量。测光结果可以定出恒星的光谱型(见恒星光谱分类)和求出恒星(或星系)的距离。测光对研究宇宙结构、星际物质空间分布和恒星演化都十分有用。

测光依据的基本原理是:在相同条件下,等同的辐射流能使探测器产生同样的响应。根据这一原理,将待测星和已知星等的星作比较,从探测器对它们的响应便可推算出待测星的星等或星等变化。比较星是事先已经确定星等的定标星,或参照定标星精确测定了星等的标准星。有时,将待测星的光谱和实验室中的绝对黑体比较,测出以物理学的绝对单位表示的天体亮度。

探测器的响应同天体的光谱能量分布(受星际消光的影响)有关,也同仪器系统(包括望远镜、滤光片和辐射探测器)的分光响应以及同地球大气消光有关。其中地球大气消光的影响可以用专门的观测方法改正。仪器系统的分光响应则决定测量的辐射波段。即使测量同一波段,不同测量者的仪器不可能完全相同,得到的星等也不一样,有时彼此间的关系是非线性的。测光的波带用平均波长λ0和通带半宽Δλ表示。λ0是仪器系统相对分光响应曲线下面积的重心所对应的波长,Δλ是该曲线上响应度等于1/2的两点对应的波长差。依半宽的大小,天体测光可分为宽带(Δλ>300埃)、中带(300埃>Δλ>90埃)和窄带(Δλ<90埃)测光。按所用探测器的类型又可分为目视测光、照相测光、光电测光等。按观测对象又分为面源测光和点源测光。

目视测光

以人眼为探测器,测得结果为目视星等,其平均波长大致为5500埃。目视测光在天体测光史上起过重要作用,星等标度是在目视测光基础上建立的。以目视测光方法测量了大量恒星的星等,编制了著名的《波恩星表》(BD)等。但因目测精度低,标度不稳定,现今只在某些近距目视双星和一些变星的测光中采用。

照相测光

用天文底片作探测器。对点光源,考滤到底片响应的非线性,必须在同一底片上拍摄待测星和一系列(从亮到暗的)星等已知的比较星。然后,用光瞳光度计或全自动底片处理机测量这些星像。由测量仪器的读数和已知星的星等作校准曲线,从该曲线内插和归算出待测星的星等。若待测星周围没有光电比较星序列,对要求不高的测光工作,现在仍间或用照相方法自定比较星序列,例如可以拍一些用物理方法按已知比例减弱的恒星。用蓝敏底片进行照相测光,得到照相星等,平均波长约4300埃。用对其他波长敏感的底片,并加适当的滤光片,可得到与目视星等类似的仿视星等、红星等和红外星等。

照相测光有许多误差来源(如乳胶不均匀、场差、显影时的缺点等),所以精度不如光电测光。一般均方误差约0.05星等。此外,照相测光的动态范围比光电测光小。照相测光的优点是能同时拍摄大面积天区的许多恒星,适宜作巡天和统计工作。如果采用线性响应的核乳胶和电子照相机,那么,原则上只要知道一颗定标星的星等,就可得出其他一切星的星等。观测的极限星等又可大大提高。

光电测光

主要仪器是光电光度计。因光电倍增管的线性响应和采用高精度的电子测试仪器,光电测光是准确度和灵敏度最高的测光方法,一般精度达到0.01~0.005个星等之间,较差测量时,可达0.001个星等。光电测光时,选择适当的光阑,让星像位于光阑中,记取仪器读数,此数减去光阑对准夜天背景(见夜天光)时的读数,即为星光产生的仪器响应。这个响应同星光成正比,可由此响应按星等定义直接求观测系统的星等。通常将此星等归算为大气外的星等并转化为标准系统。光电测光所得到的星等称为光电星等。近年制成能同时测量几个波带或同时测量变星和比较星的多通道光电光度计,同电子计算机直接联系起来,能迅速得到结果。光电测光适宜于测定星等标准,测量恒星亮度的快速变化,进行多色测光。这是目前应用最广泛的测光方法。

面源测光

对具有延伸像面的天体,如星云、星系、日、月、行星进行测光,称为面源测光。面源测光有两种:

(1)研究天体视面上亮度的分布,求其明度星等(每平方角秒的星等数);

(2)测量天体整个视面的累积星等。照相方法测量面源亮度分布时,为建立底片特性曲线,用实验室的管光度计拍摄校准记号;或者用特殊照相技术拍摄一些比较星的具有一定均匀密度面积的像,以避免因星像结构和大小不同而引入误差。有的照相密度计和光电光度计的光阑(或狭缝)可沿天体延伸面像扫描,得出天体视面等光度曲线。这种测量能研究天体表面细节的物理特征或河外星系结构。当光电测量累积星等时,光电光度计的光阑应包括整个天体视面,或用积分法求累积星等。累积星等代表天体的总辐射,也是对遥远星系距离的一种度量。

参考书目
    M. Golay,Introduction to Astronomical Photometry,D.Reidel Publ.Co.,Dordrecht,Holland,1974.