测微密度计

[拼音]：cewei miduji

[外文]：microdensitometer

测量微小面积内光学密度（或透射率）的仪器，又称测微光度计。在照相光度测量和照相分光光度测量中，用来测量底片照相密度。测微密度计按结构原理可分为两类：

（1）单光束测微密度计（见图）。稳定的光源给出一束照射光，由显微物镜缩小，均匀地照射在待测底片上，底片上的像由另一显微物镜放大，投影在宽度和高度可调的狭缝（或光阑）平面上，狭缝限制着底片上被测量的区域，透过狭缝的光流被光电管接收。当照射光束通过底片上感光部分和未感光部分时，分别记录光电流读数i和i0，感光部分的密度等于lg(i/i0)。

（2）双光束测微密度计。一个光源发出两束光：一束通过底片上待测区；另一束通过光学补偿器(如光劈)，密度随补偿器上的位置成正比地变化。这两束光到达同一光电探测器。测量时，移动光学补偿器，使第二束光强等于通过底片被测区的第一束光强，此时补偿器的位置便表示出底片的密度。这种装置不要求光源稳定，测量精度较高。

测微密度计一般都有两个同步移动的机构：一个带动被测底片，另一个带动记录纸。这样可自动扫描光谱底片。较新的全自动底片处理机，附有电子计算机数据处理系统，能自动、迅速、准确地测量各类天体的星等、光谱的密度（或透射率）、位置、形状、大小，并归算出视差、自行、视向速度、等值宽度等。