精密分析核电子仪器

[拼音]：jingmi fenxi hedianzi yiqi

[外文]：nuclear electronic instrument for precise analysis

利用核辐射和核电子仪器可对各种试样作能谱测量，从而确定样品中的微量成分，这类仪器统称为精密分析核电子仪器。

多道谱仪

由辐射探测器、核电子学信号处理电路和多道分析器组成，用于测量核辐射谱（能谱、时间谱等）的系统。常按所用探测器命名，例如，使用闪烁探测器的称为闪烁谱仪；使用硅锂探测器、锗锂探测器和高纯锗探测器（见半导体探测器）的分别称为硅锂谱仪、锗锂谱仪和高纯锗谱仪。有的也按所测辐射命名，如X射线谱仪和正电子谱仪等。各种利用电子计算机的谱仪，都配有谱处理程序和放射性核素数据库，能自动识别放射性核素并确定其含量。

正电子谱仪

某些放射性核素（如22Na）发射的正电子和被测样品中的负电子相遇时发生湮没，绝大多数情况下转化为两个能量近于511千电子伏的光子，它们向相反方向辐射，其夹角近于180°。正电子从产生到湮没的时间决定了正电子寿命，约为数百皮秒。正电子寿命、两个辐射光子的能量分布和夹角等参数，都与被测物质的许多特性──如晶格缺陷、物质相变、物质的电子结构等──有关。正电子寿命可用响应速度快的探测器和定时电路测定；光子的能量分布可用高能量分辨率多道谱仪测量；光子间的夹角可用位置灵敏探测器确定。测量上述参数的各种谱仪统称为正电子谱仪。

X 射线荧光分析仪

利用一定能量的光子或带电粒子轰击样品，激发样品中的原子产生特征X射线，其能谱由多道谱仪（近代的分析仪多用硅锂谱仪，有的工业分析仪采用单道谱仪）测量。通过分析所测谱中各特征 X射线的能量和强度，即可确定样品中极微量元素的成分和含量。X射线荧光分析仪广泛用于材料成分分析、环境样品分析、考古分析和刑事侦察等方面。